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大塚電子參加第十三屆半導體設備與核心部件及材料展

大塚電子誠邀您共赴半導體設備與核心部件及材料展盛會——第十三屆半導體設備與核心部件及材料展（CSEAC 2025。2025年9月4日-6日，我們將在無錫太湖國際博覽中心2F A6-625展位恭候您的蒞臨！

偏光片相位差·吸收軸測試原理及應用案例

偏光片、相位差膜、液晶盒、液晶涂布膜客戶，以及對偏光、相位差測量技術感興趣的各界賓客。

DIC EXPO 2025精選展商丨大塚電子，利用技術“光”的力量，提供完美的解決方案

大塚電子參加第十三屆半導體設備與核心部件及材料展

大塚電子誠邀您共赴半導體設備與核心部件及材料展盛會——第十三屆半導體設備與核心部件及材料展（CSEAC 2025。2025年9月4日-6日，我們將在無錫太湖國際博覽中心2F A6-625展位恭候您的蒞臨！

偏光片相位差·吸收軸測試原理及應用案例

偏光片、相位差膜、液晶盒、液晶涂布膜客戶，以及對偏光、相位差測量技術感興趣的各界賓客。

DIC EXPO 2025精選展商丨大塚電子，利用技術“光”的力量，提供完美的解決方案

粒徑分布 · Zeta電位測量原理及最新的測量案例介紹

測量案例：電池行業（炭黑、碳納米管等）、半導體行業（晶圓、CMP漿料等）、生物·醫藥（凝膠粒子、納米金粒子等）、食品化妝品行業（氧化鈦等）。

膜厚設備介紹（smart膜厚儀）

應用領域：光學膜、接著劑、硬化涂層、半導體光刻膠、食品用薄膜、醫療用薄膜等。

對于半導體前工序的多種需求大塚膜厚儀的特點和作用

● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數k、絕對反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。

光波動場三次元顯微鏡MINUK的介紹

大塚電子MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。

晶圓和漿料靜電相互作用的評估與半導體工藝技術簡介

大塚電子（蘇州）有限公司產品講解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等

AR/VR/MR/XR行業測量方案介紹

VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測量、LCoS液晶盒盒厚檢測Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評估、和上述關聯的AR/VR/MR/XR終端研發

DLS測量手法及技巧介紹（2024/12/18）

使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測量設備或對此有興趣的人。

平板狀·薄膜狀樣品的ZETA 電位測量與應用的介紹（2024/11/27）

大塚電子的 Zeta 電位測量系統“ELSZ 系列”不僅可以測量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過這樣的測量可以評價平板狀樣品的表面改質狀態以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會將介紹其應用。

納米粒度儀的基本操作&故障排除-蘇州線上講習會（2024-10-23）

無法測試出預想的結果，測試數據波動這么大？是設置環境的不當？運用方法不對？還是測試條件設置有誤？如果您也有同樣的困惑，請記得務必參加我司的網絡學習會。

晶圓和研磨液靜電相互作用的評價方法和半導體制程技術介紹（2024-07-24）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...

偏光片相位差·吸收軸測試原理及應用案例-蘇州線上講習會（2024-5-22）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...

納米粒度和ZETA電位設備在生物醫藥行業的應用(2024-04-24 )

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膜厚度測量(反射分光)的原理和應用介紹-2024-2-28

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RETS測試原理&應用-蘇州線上講習會（2023-12-6）

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平板ZETA電位測量-蘇州線上講習會（2023-11-22）

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9月 WEBINAR(網絡研討會)-大塚電子網絡研討會-膜厚測量應用

9月 Webinar(網絡研討會)-大塚電子網絡研討會-粒徑應用篇

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...

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